À gauche: illustration schématique d'une sonde STEM balayant l'interface de deux composés de nickelate, la nature des électrons diffusés changeant au fur et à mesure que la phase électronique du matériau passe de métallique à isolante. A droite : image STEM à résolution atomique d'un film mince de nickelate, coloré pour représenter les deux composés.
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Left: schematic illustration of a STEM probe scanning across the interface of two nickelate compounds, with the nature of the scattered electrons changing as the electronic phase of the material goes from being metallic to insulating. Right: atomic resolution STEM image of a nickelate thin film, coloured to represent the two compounds.
